Rasterelektronen-Mikroskopiesystem mit Feldemissionsquelle (FEG-SEM)

Art KD_8_2_Z1 Kerndaten für die Bekanntgabe von vergebenen Aufträgen und abgeschlossenen Rahmenvereinbarungen
Bezeichnung Rasterelektronen-Mikroskopiesystem mit Feldemissionsquelle (FEG-SEM)
Kategorie (CPV Hauptteil) 38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Auftraggeber
  • Technische Universität Wien 
    +43 15880130865
    helmut.riedl@tuwien.ac.at
    Vollziehungsbereich: Bundesebene
    Geschäftszahl: 26300.02/007/2020
Lieferant Carl Zeiss GmbH
Verfahrensart Verhandlungsverfahren mit vorheriger Bekanntmachung
Art des Auftrags Lieferauftrag
Beschreibung Rasterelektronen-Mikroskopiesystem mit Feldemissionsquelle (FEG-SEM)
Tag Vertragsabschluss 22.02.2021
Anzahl eingegangener Angebote 4
Anzahl eingegangener Angebote (KMU) 0
Auftragswert 479.100,00
Angabe ob Auftragswert OSB oder USB Oberschwellenbereich (OSB)
Version 1, XML, zuletzt aktualisiert: 26.02.2021