FX40 Complete AFM System
| Art | KD_8_2_Z1 Kerndaten für die Bekanntgabe von vergebenen Aufträgen und abgeschlossenen Rahmenvereinbarungen |
|---|---|
| Bezeichnung | FX40 Complete AFM System |
| Kategorie (CPV Hauptteil) | 38514200 Rastersondenmikroskope |
| Auftraggeber |
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| Lieferant | Park Systems Europe GmbH |
| Verfahrensart | Direktvergabe |
| Art des Auftrags | Lieferauftrag |
| Beschreibung | Komplettes Rasterkraftmikroskop-System für kleine und mittelgroße Proben, bestehend aus einem biegungsgeführten XY-Scanner, einem Standard-FX-AFM-Kopf mit entkoppeltem, biegungsgeführtem Z-Scanner, einem Multi-Snap-In-Probenhalter, einem motorisierten XY-Tisch, einem motorisierten Z-Tisch, einem automatischen Sondenwechsler, einem motorisierten Optik-Tisch, einem motorisierten Fokustisch, einer direkt auf der Achse angeordneten Optik, Park AFM-Controller. |
| Vertragslaufzeit (Bei Dauerschuldverhältnissen oder Rahmenvereinbarungen) | 90 |
| Tag Vertragsabschluss | 24.09.2026 |
| Anzahl eingegangener Angebote | 2 |
| Anzahl eingegangener Angebote (KMU) | 0 |
| Auftragswert | 139.900,00 |