Lieferung eines Cryo Focused Ion Beam Scanning Elektronenmikroskops (cryo-FIB-SEM)

Art KD_8_2_Z1 Kerndaten für die Bekanntgabe von vergebenen Aufträgen und abgeschlossenen Rahmenvereinbarungen
Bezeichnung Lieferung eines Cryo Focused Ion Beam Scanning Elektronenmikroskops (cryo-FIB-SEM)
Kategorie (CPV Hauptteil) 38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Auftraggeber
Lieferant FEI Europe B.V. Zweigniederlassung Wien
Verfahrensart Verhandlungsverfahren ohne vorherige Bekanntmachung
Art des Auftrags Lieferauftrag
Beschreibung Lieferung eines Cryo Focused Ion Beam Scanning Elektronenmikroskops (cryo-FIB-SEM)
Tag Vertragsabschluss 19.12.2024
Anzahl eingegangener Angebote 1
Anzahl eingegangener Angebote (KMU) 0
Auftragswert 1,00
Angabe ob Auftragswert OSB oder USB Oberschwellenbereich (OSB)
Version 1, XML, zuletzt aktualisiert: 18.03.2025