Rasterelektronen-Mikroskopiesystem mit Feldemissionsquelle (FEG-SEM)

Art KD_8_1_Z2 Kerndaten für die Bekanntmachung von zu vergebenden Aufträgen, Rahmenvereinbarungen und die Einrichtung bzw. Einstellung von dynamischen Beschaffungssystemen
Bezeichnung Rasterelektronen-Mikroskopiesystem mit Feldemissionsquelle (FEG-SEM)
Kategorie (CPV Hauptteil) 38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
NUTS AT ÖSTERREICH
Auftraggeber
  • Technische Universität Wien 9110007633536
    +43 15880130865
    helmut.riedl@tuwien.ac.at
    E308, Institut für Werkstoffwissenschaft und Werkstofftechnologie / Dr. Helmut Riedl-Tragenreif
    Geschäftszahl: 26300.02/007/2020
Lieferant
Verfahrensart Verhandlungsverfahren
URL http://tuwien.vergabeportal.at/Detail/89310
Art des Auftrags Lieferauftrag
Beschreibung Rasterelektronen-Mikroskopiesystem mit Feldemissionsquelle (FEG-SEM)
Bei Dauerschuldverhältnissen Laufzeit des Vertrages 720
Schlusstermin für den Eingang 16.10.2020
Tag der erstmaligen Verfügbarkeit 17.09.2020
Letzte Änderung der Ausschreibung 17.09.2020
Version 1, XML, zuletzt aktualisiert: 17.09.2020